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DM45523 為東京精密輪廓測量設備配套球頭小孔替換測針，適配 KT?32 測臂，CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機，用于狹小孔腔內部幾何采集，不優先用于粗糙度檢測。測針采用紅寶石球接觸結構，...
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產品分類0755-81711158
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DM45091 為東京精密輪廓測量設備配套加長偏置式替換測針，適配 KT?32 測臂，CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機，用于深度較大且周邊存在結構遮擋位置的輪廓與粗糙度采集。測針接觸結構采用金...
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DM45087 為東京精密輪廓測量設備配套偏置式替換測針，適配 KT?32 測臂，CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機，用于受結構遮擋的工件位置開展輪廓與粗糙度采集。測針接觸結構采用金剛石材質，帶...
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DM45085 為東京精密輪廓測量設備配套長行程小孔替換測針，適配 KT?32 測臂，CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機，可完成小孔內腔幾何輪廓與粗糙度采集。測針接觸結構采用金剛石材質，加長懸臂...
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DM45082 為東京精密輪廓測量設備配套小孔測量替換測針，適配 KT?32 測臂，CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機，用于小孔內部腔體幾何輪廓采集，可兼顧粗糙度檢測。測針接觸結構采用金剛石材質...
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DM45509 為東京精密輪廓測量設備配套深腔長桿替換測針，適配 KT?32 測臂，CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機，用于深度較大的腔體、沉孔內部幾何輪廓采集，不優先用于粗糙度檢測。測針接觸結...
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DM45504 為東京精密輪廓測量設備配套扭曲面專用替換測針，適配 KT?32 測臂，CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機，用于扭曲面、螺旋類工件幾何輪廓采集，不優先用于粗糙度檢測。測針接觸結構采...
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DM45506 為東京精密輪廓測量設備配套短款通用替換測針，適配 KT?32 測臂，CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機，用于空間受限的淺型腔體、小型工件幾何輪廓采集，不優先用于粗糙度檢測。測針接...
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DM83531 為東京精密輪廓測量設備配套短 L 型側向替換測針，適配 E?DH?S60A 輪廓檢出器，CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機，用于淺腔內部側向壁面幾何輪廓采集，不優先用于粗糙度檢測...
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DM83528 為東京精密輪廓測量設備配套超細長深孔替換測針，適配 E?DH?S60A 輪廓檢出器，CONTOUR、S?NEX 輪廓系列主機，用于孔徑狹小的超深腔體內部幾何輪廓采集，不優先用于粗糙度檢...
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