DM45509 是 ACCRETECH 東京精密推出的輪廓專用測(cè)針,屬于輪廓測(cè)量設(shè)備損耗配件,廣泛用于機(jī)械加工、模具制造、汽車零部件、液壓配件等行業(yè),完成深度較大腔體、沉孔內(nèi)部臺(tái)階與過渡圓弧的輪廓數(shù)據(jù)采集工作。
日常工業(yè)檢測(cè)過程里,部分工件內(nèi)腔深度大,普通長(zhǎng)度測(cè)針無法抵達(dá)內(nèi)部待測(cè)位置。DM45509 采用加長(zhǎng)桿體結(jié)構(gòu),能夠探入深度較大的腔體內(nèi)部,完成孔底、內(nèi)部臺(tái)階、孔內(nèi)過渡圓弧的掃描采集,適配量產(chǎn)流水線批量檢測(cè)與實(shí)驗(yàn)室抽檢場(chǎng)景。該型號(hào)以幾何輪廓測(cè)量為主,選型時(shí)需要區(qū)分使用場(chǎng)景,不適用高精度粗糙度參數(shù)檢測(cè)工況。
整套測(cè)針分為接觸檢測(cè)部位與加長(zhǎng)支撐桿體,整體結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理,運(yùn)行狀態(tài)穩(wěn)定。接觸檢測(cè)部位選用金剛石材質(zhì),該材質(zhì)耐磨性較好,在長(zhǎng)時(shí)間、大批量的反復(fù)檢測(cè)作業(yè)當(dāng)中,觸頭損耗較低,可以保持統(tǒng)一的接觸條件,減少檢測(cè)數(shù)據(jù)上下浮動(dòng)的情況,降低因配件磨損帶來的數(shù)據(jù)偏差,保障設(shè)備長(zhǎng)期穩(wěn)定作業(yè)。
桿體采用合金材質(zhì),加長(zhǎng)結(jié)構(gòu),相較標(biāo)準(zhǔn)短桿測(cè)針,抗撞擊能力偏弱。在合理的檢測(cè)行程之下,桿體不容易發(fā)生彎曲變形,能夠維持既定的行進(jìn)軌跡,保證每次檢測(cè)的運(yùn)動(dòng)路徑保持一致,讓采集得到的輪廓數(shù)據(jù)保持穩(wěn)定,規(guī)避桿體形變帶來的各類檢測(cè)異常。深腔內(nèi)部作業(yè)空間有限,使用時(shí)需要管控各軸運(yùn)動(dòng)范圍,規(guī)避撞擊損壞測(cè)針。
產(chǎn)品采用模塊化分體式設(shè)計(jì),拆裝流程簡(jiǎn)單便捷,無需拆解測(cè)臂主體,操作人員可獨(dú)立完成更換。更換結(jié)束之后,通過標(biāo)準(zhǔn)輪廓樣塊校準(zhǔn)即可投入正式檢測(cè),縮短設(shè)備停機(jī)時(shí)間,提升生產(chǎn)線檢測(cè)效率,適配高頻次、大批量的工業(yè)質(zhì)檢工況。裝配時(shí)需要核對(duì) KT?32 測(cè)臂接口規(guī)格,確認(rèn)與主機(jī)匹配,避免配件錯(cuò)配。
該測(cè)針適配 KT?32 測(cè)臂,對(duì)應(yīng) CONTOUR、S?NEX 輪廓檢測(cè)機(jī)型。采購與庫存管理時(shí)可核對(duì)設(shè)備型號(hào),避免配件錯(cuò)配。設(shè)備作業(yè)時(shí),可完成高度、角度、圓弧半徑、臺(tái)階差值等各類常規(guī)輪廓參數(shù)的采集與運(yùn)算,符合工業(yè)質(zhì)檢的數(shù)據(jù)記錄、存檔與驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。
測(cè)針屬于損耗配件,長(zhǎng)期高頻使用后觸頭會(huì)產(chǎn)生正常輕微磨損。若出現(xiàn)檢測(cè)數(shù)據(jù)偏移、校準(zhǔn)無法復(fù)位的情況,需及時(shí)更換新測(cè)針,保障檢測(cè)精度。日常使用需規(guī)范控制檢測(cè)行程,避免擠壓、撞擊;閑置時(shí)收納于專用保護(hù)盒,可延長(zhǎng)使用壽命,維持檢測(cè)穩(wěn)定性。
規(guī)格參數(shù)數(shù)據(jù)表
產(chǎn)品型號(hào):DM45509
產(chǎn)品類型:深腔長(zhǎng)桿專用輪廓可替換檢測(cè)測(cè)針
接觸部位材質(zhì):金剛石
桿體材質(zhì):合金材質(zhì)
接觸部位錐角:12° 單片角
接觸部位曲率半徑:25μm(R0.025mm)
總長(zhǎng)度:70mm
桿體外徑:3.0mm
有效測(cè)針長(zhǎng)度:62mm
單支產(chǎn)品重量:0.46g
包裝規(guī)格:1 支 / 套
適配測(cè)臂:KT?32
適配主機(jī)機(jī)型:CONTOUR 系列、S?NEX 輪廓檢測(cè)機(jī)型
適用檢測(cè)場(chǎng)景:深腔、沉孔、大深度內(nèi)腔位置的輪廓常規(guī)檢測(cè)
產(chǎn)品產(chǎn)地:日本